[发明专利]高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种高速信号连接器有效接触行程测试系统，用于测试公信号连接器与母信号连接器配接时的有效接触行程，其特征在于，包括：

插拔力试验机，其用于将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接，并记录配接时产生的位移和插拔力；

微欧表，其用于所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻测试；以及

工控机，其用于接收所述插拔力试验机发送的位移和插拔力以及微欧表发送的接触电阻的阻值，并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值，生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线，所述插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线用于分辨公信号连接器与母信号连接器接触状态的相对位置，且还用于获取接触电阻大小的变化情况及对应的相对位移，以得到有效接触行程。

2.如权利要求1所述的高速信号连接器有效接触行程测试系统，其特征在于：所述插拔力试验机上设有荷重传感器，所述荷重传感器将配接时产生插拔力发送至所述工控机。

3.如权利要求1所述的高速信号连接器有效接触行程测试系统，其特征在于：所述工控机还包括显示器，所述显示器用于显示所述插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。

4.一种基于权利要求1所述的高速信号连接器有效接触行程测试系统的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

插拔力试验机将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接，并将配接时产生的位移和插拔力发送至所述工控机；

微欧表将所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻的阻值发送至所述工控机；

工控机接收所述位移、插拔力和接触电阻的阻值，并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值，生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线；

根据插拔力与位移的曲线，确定公信号连接器与母信号连接器开始接触的位置；

根据接触电阻与位移的曲线，确定公信号连接器与母信号连接器为单点连接接触的位置；

根据接触电阻与位移的曲线，确定公信号连接器与母信号连接器为两点连接接触的位置；

根据插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线，确定有效接触行程的位移区间的左端点和右端点，得到有效接触行程。

5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于：插拔力与位移的曲线包括插入力与位移的曲线以及拔出力与位移的曲线，当出现插入力与位移的曲线时，判定公信号连接器与母信号连接器开始接触。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于：接触电阻与位移的曲线包括插入时接触电阻与位移的曲线和拔出时接触电阻与位移的曲线，当出现插入时接触电阻与位移的曲线时，判定公信号连接器与母信号连接器进入单点连接接触状态。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：当插入时接触电阻与位移的曲线中出现由一段稳定的曲线段过渡另一曲线段而形成台阶时，判定公信号连接器与母信号连接器由单点连接接触状态进入两点连接接触状态。

8.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于：所述插拔力试验机上设有荷重传感器，所述荷重传感器将配接时产生插拔力发送至所述工控机。

9.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于：所述工控机还包括显示器，所述显示器显示所述插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。