[发明专利]高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法，涉及连接器接触行程测试领域，包括：插拔力试验机，其用于将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接，并记录配接时产生的位移和插拔力；微欧表，其用于所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻测试。工控机，其用于接收所述插拔力试验机发送的位移和插拔力以及微欧表发送的接触电阻的阻值，并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值，生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。本发明能够直观准确的确定连接器有效接触行程。

技术领域

本发明涉及连接器接触行程测试领域，具体涉及一种高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法。

背景技术

目前连接器接触行程数据对于连接的可靠性十分重要，通信系统信号连接器许多软故障同该数据有关。对于高速信号连接器来说，若连接有效行程太大(连接端子偏长)，连接器体积相对较大，尽管接触连接可靠，但占用相对较大空间，同时在高频条件下的天线效应，不利于高速信号传输；假若连接有效行程太小(端子偏短)，由于实际应用中存在多种配合及加工误差，致使接触连接可靠性下降。

正因为如此，相关标准要求信号连接器有效接触行程不小于0.51mm。在高频条件下小有效行程天线效应弱，有利于高速信号传输，有利于减小连接器的体积，从而减小通信设备的体积并提高传输容量。因此在实际设计及应用中准确地测试高速信号连接器有效接触行程数据显得尤为重要。

然而使用常用的工具测试该数据十分困难，因为公母连接器的可靠接触是通过对应的端子配接并保持适当的正压力作用完成的，为了保证端子定位固定及合适的正压力，金属端子外面包着塑胶壳体等结构固定端子，倘若把连接器塑胶壳体破坏，相应端子位置不是实际工作的位置，受力状态也不是工作时的状态，在这种条件下测试接触行程没有实际参考价值。采用插拔力与位移对应关系曲线大致估算方法，误差较大。在信号传输速率低，连接器体积比较大，连接行程余量较多情况下，大致估计推算法对实际应用影响不明显。但是随着模块小型高速化及设备小型高容量化需求驱动下，势必要求连接器小型高速化，这样接触行程不可能有太多的余量，此外，采用传统的接触行程估计推算法，需要仔细研究公母信号连接器各部件的结构与它们在连接器端子配接中所起作用与功能，深入分析连接器的各部分配接时引起插拔力变化，从而估计信号连接器接触端子起连接作用开始位置，根据端子接触连接开始位置及信号配接的插拔力与配接位移曲线大致估计接触行程；该方法无法知道在某种连接状态是否稳定可靠，因此无法获取有效接触行程；另外，该方法不直观并需要建立在相关经验积累的基础上，误差较大，对接触行程较小的高速信号连接器不适用。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种能够直观准确的确定连接器有效接触行程的高速信号连接器有效接触行程测试系统。

为达到以上目的，本发明采取的技术方案是：

一种高速信号连接器有效接触行程测试系统，用于测试公信号连接器与母信号连接器配接时的有效接触行程，包括：

插拔力试验机，其用于将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接，并记录配接时产生的位移和插拔力；

微欧表，其用于所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻测试；以及

工控机，其用于接收所述插拔力试验机发送的位移和插拔力以及微欧表发送的接触电阻的阻值，并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值，生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。

在上述技术方案的基础上，所述插拔力试验机上设有荷重传感器，所述荷重传感器将配接时产生插拔力发送至所述工控机。

在上述技术方案的基础上，所述工控机还包括显示器，所述显示器用于显示所述插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。

与此同时，本发明的另一个目的在于提供一种能够直观准确的确定连接器有效接触行程的高速信号连接器有效接触行程测试方法。