[发明专利]一种量子点及其合成方法有效

专利信息
申请号: 201810577676.5 申请日: 2018-06-07
公开(公告)号: CN108531185B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 蒋秀琴 申请(专利权)人: 宁波纳鼎新材料科技有限公司
主分类号: C09K11/88 分类号: C09K11/88;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y40/00
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王茹;王锋
地址: 315000 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种量子点及其合成方法。所述量子点具有核壳结构,其中的核包括CdZnSeS量子点,壳层包括依次包覆所述核的第一CdZnS层、第二CdZnS层、第一ZnS层以及第二ZnS层。所述合成方法包括:提供作为核的CdZnSeS量子点,于所述CdZnSeS量子点上包裹壳层,所述壳层包括依次形成的第一CdZnS层、第二CdZnS层、第一ZnS层和第二ZnS层。本发明的量子点采用双层CdZnS合金过渡层,可在提高吸光度的同时提升效率并且提高稳定性;并且,合成方法反应条件温和,应用前景广泛。
搜索关键词: 一种 量子 及其 合成 方法
【主权项】:
1.一种量子点,其特征在于它具有核壳结构,其中的核包括CdZnSeS量子点,壳层包括依次包覆所述核的第一CdZnS层、第二CdZnS层、第一ZnS层以及第二ZnS层;优选的,所述核的尺寸为5~7nm;优选的,所述第一CdZnS层的厚度为1~3nm;优选的,所述第二CdZnS层的厚度为2~4nm;优选的,所述第一ZnS层的厚度为2~4nm;优选的,所述第二ZnS层的厚度为2~4nm。
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