[发明专利]光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201810553658.3 | 申请日： | 2018-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN108683907B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 韩欣欣;赵志勇;董南京;孙德波 | 申请（专利权）人： | 歌尔股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人： | 刘戈 |
| 地址： | 261031 山东省潍坊*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备，其中，方法包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。本发明提供的技术方案，能够准确地检测出光学模组的像素缺陷，有利于优化光学模组的加工工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 模组 像素 缺陷 检测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种光学模组像素缺陷检测方法，其特征在于，包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。
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