[发明专利]光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备

权利要求书

1.一种光学模组像素缺陷检测方法，其特征在于，包括：

对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；

从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；

从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；

根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷；

所述测试二值图包含：灰度等级为1的白色图样以及灰度等级为0的黑色图样；

所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域分别为所述测试二值图中的白色图样以及黑色图样在所述第一灰度图上对应的图像区域；

所述测试二值图还包括：第一测试二值图以第二测试二值图；

其中，在所述第一测试二值图中，所述白色图样为位于所述第一测试二值图中央的白色矩形，所述黑色图样为包裹在所述白色矩形周围的黑色矩形框；

在所述第二测试二值图中，所述黑色图样为位于所述第二测试二值图样中央的黑色矩形，所述白色图样为包裹在所述黑色矩形周围的白色矩形框；

所述根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷，包括：

定位所述像素缺陷点组成的像素缺陷区域的轮廓；

根据所述像素缺陷区域的轮廓，计算所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标；

根据所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标，在所述光学模组的显示屏幕上确定所述光学模组的像素缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域，包括：

逐行分析所述第一灰度图的灰度分布；

基于所述灰度分布，确定灰度变化大于设定的灰度对比度的像素点，作为边界像素点；

根据所述边界像素点，将所述第一灰度图划分为所述第一灰度区域和所述第二灰度区域。

3.根据权利要求1-2中任意一项所述的方法，其特征在于，从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，包括：

从所述第一灰度区域中，确定灰度值小于第一设定阈值的像素点，作为与所述第一灰度区域的灰度特征不匹配的像素点；以及，

从所述第二灰度区域中，确定灰度值大于第二设定阈值的像素点，作为与所述第二灰度区域的灰度特征不匹配的像素点。

4.根据权利要求1-2中任意一项所述的方法，其特征在于，白色矩形在所述第一测试二值图中的占比，与黑色矩形在所述第二测试二值图中的占比不相等。

5.一种光学模组像素缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像采集模块，用于对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；

灰度区域划分模块，用于从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；

像素缺陷点检测模块，用于从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；

像素缺陷确定模块，用于根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷；

所述测试二值图包含：灰度等级为1的白色图样以及灰度等级为0的黑色图样；

所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域分别为所述测试二值图中的白色图样以及黑色图样在所述第一灰度图上对应的图像区域；

所述测试二值图还包括：第一测试二值图以第二测试二值图；

其中，在所述第一测试二值图中，所述白色图样为位于所述第一测试二值图中央的白色矩形，所述黑色图样为包裹在所述白色矩形周围的黑色矩形框；

在所述第二测试二值图中，所述黑色图样为位于所述第二测试二值图样中央的黑色矩形，所述白色图样为包裹在所述黑色矩形周围的白色矩形框；

所述像素缺陷确定模块，具体用于：

定位所述像素缺陷点组成的像素缺陷区域的轮廓；

根据所述像素缺陷区域的轮廓，计算所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标；

根据所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标，在所述光学模组的显示屏幕上确定所述光学模组的像素缺陷。

6.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器以及处理器；

其中，存储器用于存储至少一条计算机指令；

所述处理器与所述存储器耦合，以用于执行权利要求1-4中任一项权利要求所述的方法。