[发明专利]带温度控制的多室喷头在审
申请号: | 201810527225.0 | 申请日: | 2014-02-17 |
公开(公告)号: | CN108546932A | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 帕特里克·G·布莱琳;巴德里·N·瓦拉达拉简;詹妮弗·L·彼得拉利亚;巴特·J·范施拉芬迪克;卡尔·F·利泽;曼迪阿曼吉·斯利拉姆;雷切尔·E·巴策尔 | 申请(专利权)人: | 诺发系统公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;张华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种用于半导体处理操作的喷头,包括:自由基源容积腔;前驱体室;具有第一面和相对的第二面的前驱体输送板;成图案的自由基通孔;和成图案的气体输送孔。 | ||
搜索关键词: | 喷头 前驱体 半导体处理操作 图案 气体输送 自由基源 容积腔 输送板 自由基 多室 通孔 | ||
【主权项】:
1.一种用于半导体处理操作的喷头,其中,所述喷头包括:自由基源容积腔;前驱体室;具有第一面和相对的第二面的前驱体输送板;成图案的自由基通孔;和成图案的气体输送孔,其中:所述前驱体输送板的所述第一面朝向所述自由基源容积腔,所述自由基源容积腔和所述前驱体室在所述喷头内彼此流体隔离,所述自由基通孔中的每一个穿过所述前驱体输送板,所述自由基通孔中的每一个均在所述前驱体输送板的所述第二面上退出所述前驱体输送板,并且所述自由基通孔中的每一个与所述自由基源容积腔在所述喷头内彼此流体连通,所述气体输送孔中的每一个均与所述前驱体室流体连通且在所述前驱体输送板的所述第二面上退出所述前驱体输送板,所述自由基通孔经由第一平面上的开口退出所述前驱体输送板的所述第二面,且所述气体输送孔经由在偏离所述第一平面第一距离的第二平面上的开口退出所述前驱体输送板的所述第二面,使得所述第一平面比所述第二平面更靠近所述前驱体输送板的所述第一面,和所述第一距离至少是0.25英寸。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的