[发明专利]一种直齿轮齿面偏差在机测量方法在审
| 申请号： | 201810505654.8 | 申请日： | 2018-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN108645301A | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 朱晓春;周雯超;丁文政;孙晓敏 | 申请（专利权）人： | 南京工程学院 |
| 主分类号： | G01B3/12 | 分类号： | G01B3/12 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 邓道花 |
| 地址： | 211167 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种直齿轮齿面偏差在机测量方法，包括如下步骤：a.齿轮齿面的测量模型的建立，根据渐开线齿廓上点K方程推出齿轮齿面点K的方程。b.规划齿面偏差在机测量过程中的测量点:根据建立的齿轮齿面的测量模型，对在机测量过程中选取的测量点提出了优化方案。确定了齿面上的测量区域后，提出了基于法曲率半径的测量点数量规划以及Hammersley序列的测量点分布规划。本发明基于数控磨齿机现有的结构的基础上，增加雷尼绍测头系统搭建了齿轮在机测量试验台，实现在机测量。在齿轮在机测量试验台上对待测齿轮进行测量，得到齿轮齿面偏差的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 在机测量 测量点 齿轮齿 齿轮 齿面 测量模型 直齿轮 测量 渐开线齿廓 数控磨齿机 测头系统 齿轮齿面 数量规划 试验台 规划 试验 优化 | ||
【主权项】：
1.一种直齿轮齿面偏差在机测量方法，其特征在于：基于数控磨齿机搭建成的在机测量试验台，该在机测量试验台至少包括连接在数控磨齿机控制中心上的雷尼绍测头，实现在机测量直齿轮齿面偏差包括如下步骤：a.齿轮齿面的测量模型的建立，根据渐开线齿廓上点K方程推出齿轮齿面点K的方程；b.规划齿面偏差在机测量过程中的测量点:根据建立的测量模型，对在机测量过程中选取的测量点提出优化方案，得到确定的测量区域；确定齿面上的测量区域后，基于法曲率半径的测量点数量规划以及Hammersley序列的测量点分布规划；计算出Hammersley测量点，随后将齿轮齿面的Hammersley测量点投影到xoy平面上，进行测量点的分布规划，最终将二维点坐标转化为三维点坐标，得到齿面上的测量点分布图。
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