[发明专利]一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法

摘要

本发明涉及一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法。现有技术需要破坏产品形状检测内部结构缺陷，非破坏性x射线检测技术应用范围有局限性。本发明的方法通过微波热成像技术间接地将产品内部结构缺陷成像检测出来。将低频微波均匀照射在产品表面，微波穿过产品内部，受到结构不一致性影响，在背面贴附的微波吸收加热箔纸会产生不均匀性加热程度，通过红外摄像头将内部结构分布转化为热度分布图像，然后由图像处理算法将热度分布图像转化为结构缺陷特征显示在计算机显示器上，以提供检测人员判别是否存在结构缺陷的依据。采用本发明的检测方法可以达到x射线成像方法的高分辨率水平，并且检测安全性高，对检测人员无辐射危害。

主权项

1.一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法， 所述方法包括：（1）产品通过运送平台将待检测产品运输到微波检测区；（2）微波源产生的微波通过产品传送平台内放置的电介质透镜天线对产品表面均匀照射，微波穿过被检测产品辐射在产品背面的特质箔纸板上；（3）箔纸板被微波加热，由于结构缺陷使得箔纸板吸收的微波不均匀，箔纸板表面加热温度也不均匀；（4）红外摄像头将箔纸板不均匀的热度转换为不均匀的热成像图像数据；（5）计算机经过图像处理算法将产品内部结构图像显示在显示器上，为检测人员诊断缺陷问题提供依据。