[发明专利]一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法有效
申请号: | 201810499054.5 | 申请日: | 2018-05-23 |
公开(公告)号: | CN108918557B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 许家忠;郑学海;田建德;刘新良;刘宝权 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 导电性 产品结构 缺陷 无损 检测 方法 | ||
1.一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法, 所述方法包括:
(1)产品通过运送平台将待检测产品运输到微波检测区;(2)微波源产生的微波通过产品传送平台内放置的电介质透镜天线对产品表面均匀照射,微波穿过被检测产品辐射在产品背面的特质箔纸板上;(3)箔纸板被微波加热,由于结构缺陷使得箔纸板吸收的微波不均匀,箔纸板表面加热温度也不均匀;(4)红外摄像头将箔纸板不均匀的热度转换为不均匀的热成像图像数据;(5)计算机经过图像处理算法将产品内部结构图像显示在显示器上,为检测人员诊断缺陷问题提供依据。
2.根据权利要求1所述的一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法,其特征在于,通过微波加热原理,将被检测产品内部结构分布情况转换为箔纸板温度分布图像,红外摄像头采集的热成像图像数据可以清晰可靠地表达出产品内部结构不一致性问题情况。
3.根据权利要求1所述的一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法,其检测系统进一步包括:被检测产品运送平台,阵列式电介质透镜天线,特定材质微波吸收箔纸板,红外摄像头,热成像算法系统,同步控制系统,图像显示单元和CCD相机处理单元 。
4.根据权利要求1所述的一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法,其中所述的产品检测最大厚度为40mm,微波频率设定在24GHz~35GHz之间。
5.根据权利要求1所述的一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法,其特征在于,所述的方法可以在微分模式下使用,通过与无缺陷的参考部件的图像进行对比,匹配出微波不均匀分布的图像区域,微分模式下可以清晰的分辨出缺陷所处的位置和图像中缺陷结构的情况。
6.根据权利要求1所述的一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法,其特征在于,计算机软件将采集处理的数据记录存档,并且同步系统将每个检测计算机集成于远程专家诊断系统,可以将诊断数据传输给远程专家,方便专家在非现场情况下远程诊断产品结构的不一致性问题 。
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