[发明专利]一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法在审
| 申请号： | 201810472195.8 | 申请日： | 2018-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN108680262A | 公开（公告）日： | 2018-10-19 |
| 发明（设计）人： | 胡飞;苏金龙;田岩;程亚运;伍宏飞;胡演;宋梦婷 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法，属于无源微波遥感与探测技术领域，包括：利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析，得到待测目标的辐射率。本发明能够非接触、被动、且不需要复杂的定标过程，同时还可消除天线旁瓣以及主波束不完全被目标区域覆盖时所引起的误差，从而获取更为准确的、便易的辐射率测量方法，为目标的检测和识别提供信息。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射计 待测目标 目标辐射 输出电压 测量 黑体 辐射率测量 差值分析 金属目标 目标区域 探测技术 天线旁瓣 同一位置 无源微波 非接触 辐射率 主波束 定标 遥感 检测 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法，其特征在于，包括：(1)利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；(2)利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析，得到待测目标的辐射率。
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