[发明专利]一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法在审
| 申请号: | 201810472195.8 | 申请日: | 2018-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN108680262A | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
| 发明(设计)人: | 胡飞;苏金龙;田岩;程亚运;伍宏飞;胡演;宋梦婷 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
| 主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52 |
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智;曹葆青 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射计 待测目标 目标辐射 输出电压 测量 黑体 辐射率测量 差值分析 金属目标 目标区域 探测技术 天线旁瓣 同一位置 无源微波 非接触 辐射率 主波束 定标 遥感 检测 覆盖 | ||
1.一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,包括:
(1)利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量,得到第一电压、第二电压和第三电压;
(2)利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析,得到待测目标的辐射率。
2.如权利要求1所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述步骤(2)的具体实现方式为:
将第二电压减去第一电压得到第一差值,将第三电压减去第一电压得到第二差值,将第一差值除以第二差值得到待测目标的辐射率。
3.如权利要求1或2所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述辐射计的天线与待测目标的夹角改变时,得到待测目标在不同角度下的辐射率。
4.如权利要求1或2所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述方法还包括:
旋转辐射计后,执行步骤(1)-(2),得到不同极化下待测目标的辐射率。
5.如权利要求1或2所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述金属目标的环境背景亮温与黑体目标的物理温度不同。
6.如权利要求1或2所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述金属目标、待测目标和黑体目标的尺寸相同。
7.如权利要求3所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述辐射计的天线与待测目标的夹角为待测目标所在面的法向量与辐射计的天线所在面的法向量之间的夹角。
8.如权利要求1或2所述的一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,其特征在于,所述辐射计的主波束完全投射在金属目标、待测目标或者黑体目标上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810472195.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





