[发明专利]一种B超采样装置在审
申请号: | 201810470669.5 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN108836446A | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | 李辉;邹涛;沈悦凡 | 申请(专利权)人: | 李辉;邹涛;沈悦凡 |
主分类号: | A61B17/34 | 分类号: | A61B17/34;A61B10/00 |
代理公司: | 绍兴普华联合专利代理事务所(普通合伙) 33274 | 代理人: | 范琪美 |
地址: | 313000 浙江省湖州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种B超采样装置,包括B超探头,穿刺针,所述B超探头包括手持部和探测部,所述探测部一端上表面开设有定位孔,所述探测部对应所述定位孔两侧面开设有卡位槽,所述探测部上设置有下端与所述卡位槽卡接的穿刺架,所述穿刺架上端通过定位螺栓与所述定位孔连接,所述穿刺架远离所述探测部一侧面开设有方槽,所述方槽内设置有针架,所述B超探头上设置有至少两个用于固定所述探测部位置的吸附机构。本发明使B超探头不会偏离原来的位置,保证穿刺架与皮肤之间不会发生相对移动,提高了穿刺的成功率;通过在B超探头上设置卡位槽和定位槽,减少了B超探头与穿刺架的接触面积,从而减小了B超探头受到的压力,提高了B超探头使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 穿刺架 探测 定位孔 卡位槽 采样装置 定位螺栓 使用寿命 吸附机构 相对移动 穿刺 穿刺针 定位槽 两侧面 上表面 上端 方槽 减小 卡接 下端 针架 成功率 偏离 皮肤 侧面 保证 | ||
【主权项】:
1.一种B超采样装置,包括B超探头(1),穿刺针(2),其特征在于:所述B超探头(1)包括手持部(1‑1)和探测部(1‑2),所述探测部(1‑2)一端上表面开设有定位孔(1‑2‑1),所述探测部(1‑2)对应所述定位孔(1‑2‑1)两侧面开设有卡位槽(1‑2‑2),所述探测部(1‑2)上设置有下端与所述卡位槽(1‑2‑2)卡接的穿刺架(3),所述穿刺架(3)上端通过定位螺栓(3‑1)与所述定位孔(1‑2‑1)连接,所述穿刺架(3)远离所述探测部(1‑2)一侧面开设有方槽(3‑2),所述方槽(3‑2)内设置有针架(4),所述B超探头(1)上设置有至少两个用于固定所述探测部(1‑2)位置的吸附机构(5)。
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