[发明专利]一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法有效

专利信息
申请号: 201810428420.8 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN108614941B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 黄志亮;曾琦;曾宪辰;阳同光;李航洋;赵治国 申请(专利权)人: 湖南城市学院
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 长沙惟盛赟鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 43228 代理人: 黄敏华
地址: 413000 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法,步骤包括:确定集成电路板的参数并建立热力耦合仿真模型;构建焊盘热应力和晶片翘曲的性能函数;构建焊盘热应力和晶片翘曲的极限状态方程;构建焊盘热应力和晶片翘曲的近似极限状态方程;校核焊盘强度和晶片翘曲;结束并输出板级封装最优设计和固定点最优误差容限。本发明通过对集成QFN芯片的板级封装构建热力耦合仿真模型,并采用区间分析技术建立极限状态方程,所得板级封装最优设计方案不仅可以满足热应力和翘曲的设计要求,同时也具有最低的加工成本和工艺难度。并且,本发明所提方法在效率和收敛性方面具良好综合性能。
搜索关键词: 一种 针对 集成 qfn 芯片 封装 设计 优化 方法
【主权项】:
1.一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法,该方法包括以下步骤:确定集成电路板的参数并建立热力耦合仿真模型;构建焊盘热应力和晶片翘曲的性能函数;构建焊盘热应力和晶片翘曲的极限状态方程;构建焊盘热应力和晶片翘曲的近似极限状态方程;校核焊盘强度和晶片翘曲;结束并输出板级封装最优设计和固定点最优误差容限。
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