[发明专利]一种自适应背光的缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201810414332.2 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN108646445B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 罗巍巍;张胜森 申请(专利权)人: 武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 鲁力
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及基于AOI的LCD的缺陷自动检测领域,尤其是LCD的一些Mura类缺陷和点类微观缺陷的自动化检测领域,具体涉及一种自适应背光的缺陷检测装置。本发明能够针对不同的pattern设置不同的背光亮度,从而保证每个pattern下的缺陷都有最佳的表现效果。本发明有效避免由于待检画面亮度差异导致的缺陷表现效果不佳的现象。解决画面整体亮度过亮导致的微弱暗点就会无法清晰的表现出来及整个画面亮度过暗导致一些微弱的亮点就无法清晰的表现的问题。有利于改善液晶屏缺陷检测的检出率误检率。
搜索关键词: 一种 自适应 背光 缺陷 检测 装置
【主权项】:
1.一种自适应背光的缺陷检测装置,其特征在于,包括操作平台、相机组件以及待检LCD平台背光台;其中,所述操作平台具有相机组件控制信号输出接口、背光控制信号输出接口以及图像信号输入接口,相机组件具有相机组件控制信号输入接口以及图像信号输出接口,待检LCD平台背光台具有背光控制信号输入接口,所述相机组件控制信号输出接口通过控制总线与相机组件控制信号输入接口连接;背光控制信号输出接口通过控制总线与背光控制信号输入接口连接;图像信号输出接口通过信号传输总线与图像信号输入接口连接。
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