[发明专利]用于微波/毫米波频段涡旋电磁波的反射与透射测试装置在审
申请号: | 201810403961.5 | 申请日: | 2018-04-28 |
公开(公告)号: | CN108663578A | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 姚羽;梁仙灵;朱茂华;耿军平;贺冲;朱卫仁;金荣洪 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 庄文莉 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于微波/毫米波频段涡旋电磁波的反射与透射测试装置,包括底座、垂直支架、待测材料固定角、发射天线及天线支架,垂直支架紧固底座两侧,待测材料固定角设置于底座两侧滑槽内并能够沿滑槽延伸方向滑动,垂直支架和待测材料固定角间设置有待测材料放置区;天线支架设置于底座和垂直支架上,天线支架用于固定发射天线。本发明的结构合理,操作方便,配合微波近场测量系统测试涡旋电磁波反射与透射的特性;通过改变待测材料固定角实现不同厚度待测材料的放置倾角调整,实现不同入射角度涡旋电磁波的反射与透射测试;通过接口螺孔和固定螺孔实现多角度的天线旋转;采用框架式非金属材料,对涡旋电磁波的传输特性测试的影响小。 | ||
搜索关键词: | 待测材料 涡旋 垂直支架 电磁波 固定角 透射 天线支架 反射 毫米波频段 测试装置 滑槽 底座 天线 微波 传输特性测试 测试 电磁波反射 非金属材料 材料放置 测量系统 底座两侧 发射天线 固定发射 固定螺孔 接口螺孔 紧固底座 倾角调整 微波近场 框架式 入射角 滑动 延伸 配合 | ||
【主权项】:
1.一种用于微波/毫米波频段涡旋电磁波的反射与透射测试装置,其特征在于,包括底座、垂直支架、待测材料固定角、发射天线以及天线支架,其中:所述垂直支架紧固在所述底座的两侧,所述待测材料固定角设置于所述底座两侧的滑槽内并能够沿所述滑槽延伸方向滑动,所述垂直支架和待测材料固定角之间设置有待测材料放置区;所述天线支架设置于所述底座和垂直支架上,所述天线支架用于固定所述发射天线。
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