[发明专利]相位图的滤波评价方法有效

专利信息
申请号: 201810393755.0 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108648154B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 王永红;赵琪涵;孙方圆;陈维杰;钟诗民 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;余罡
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种相位图的滤波评价方法,本发明实施例中,在每次对包裹相位图进行相位滤波之后,利用平滑样条拟合函数确定包裹相位图中预定区域内的像素点的灰度值的预测值,计算预定区域内预测值与实际灰度值的均方根误差,之后计算对包裹相位图进行相位滤波前后两次得到的均方根误差的差值,并判断该差值是否大于或等于预定值,在该差值大于或等于预定值时,再次对包裹相位图进行相位滤波,否则结束对包裹相位图进行相位滤波操作。上述技术方案能够准确的确定对包裹相位图的滤波处理是否完成,从而可以实现散斑图像处理过程中滤波环节的自动化,对于提高散斑干涉系统的实用化和软件的易用性具有很重要的应用价值。
搜索关键词: 相位 滤波 评价 方法
【主权项】:
1.一种相位图的滤波评价方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:S1、确定平滑样条拟合公式,其中,所述平滑样条拟合公式包括平滑参数和平滑样条拟合函数;确定所述平滑参数的取值,并确定平滑样条拟合公式取值最小时的平滑样条拟合函数,得到目标平滑样条拟合函数;其中,所述目标平滑样条拟合函数包括自变量和因变量,所述自变量为像素点的横坐标,所述因变量为对应像素点的灰度值的预测值;S2、获取待测物体的包裹相位图,并对所述包裹相位图进行相位滤波处理;S3、获取滤波处理后的包裹相位图中预定区域内的像素点的灰度值;S4、以所述预定区域内的像素点的横坐标为所述目标平滑样条拟合函数的自变量进行运算,得到所述预定区域内每个像素点的灰度值的预测值;根据所述预定区域内每个像素点的灰度值和每个像素点的灰度值的预测值,确定所述预定区域灰度值的均方根误差;S5、对所述包裹相位图进行相位滤波处理;S6、重复执行步骤S3和S4,得到新的均方根误差,计算新的均方根误差与上一次执行步骤S3和S4得到的均方根误差的差值,并在所述差值大于或等于所述预定值的情况下,返回步骤S5。
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