[发明专利]电解电容剩余寿命预测方法在审
| 申请号： | 201810393596.4 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108875126A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 池程芝;邬子婴;张竞凯;李铁颖;徐国靖;潘震 | 申请（专利权）人： | 中国航空无线电电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人： | 杨慧 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电解电容剩余寿命预测方法，一：对已知的电解电容数据进行拟合分析，确定经验退化模型；二：结合电解电容数据和经验退化模型拟合得到参数的初始值，根据经验退化模型参数的初始值初始化粒子群：三：对粒子群中各粒子进行重要性采样，得到各个粒子的重要性权值；四：设置权重门限，当粒子重要性权值小于权重门限时，进入抛弃组；当粒子重要性权值大于权重门限时，进入复制组，将抛弃组和复制组的粒子组合得到新的粒子群；五：根据粒子群预测电解电容的剩余寿命。本发明在粒子滤波的框架下引入了UKF算法生成方差较小的建议分布，并在重采样时采用线性优化重采样方法以增加粒子的多样性，进一步提高了电解电容剩余寿命预测的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 电解电容 粒子 粒子群 剩余寿命预测 退化模型 权重 重采样 拟合 限时 复制 抛弃 粒子滤波 剩余寿命 线性优化 初始化 采样 门限 算法 多样性 引入 预测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种电解电容剩余寿命预测方法，包含以下步骤：步骤一、对已知的电解电容数据进行拟合分析，确定经验退化模型；步骤二、结合已知的电解电容数据和此经验退化模型拟合得到经验退化模型参数的初始值，根据经验退化模型参数的初始值初始化粒子群：步骤三、对粒子群中各粒子进行重要性采样，得到各个粒子的重要性权值；步骤四、设置权重门限，当粒子重要性权值小于权重门限时，进入抛弃组；当粒子重要性权值大于权重门限时，进入复制组，将抛弃组和复制组的粒子按下式重新组合得到新的粒子群：xn＝xc+L·(xc+xa)其中，xc为复制组的粒子，xa为抛弃组的粒子，L为(xc‑xa)的合适步长，L＝[1/(N·p(x))]1/m![]()
为采样点![]()
的概率密度，![]()
是m维向量；步骤五、判断是否达到循环次数，如未达到，将新的粒子群代入到步骤三，否则根据新的粒子群预测电解电容的剩余寿命。
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