[发明专利]一种阵列基板、显示装置及测试方法在审
申请号: | 201810385802.7 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN108549181A | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 张伟;王晓康;张寒;张文龙;辛利文;赵欣;韩帅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G09G3/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 解婷婷;曲鹏 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种阵列基板、显示装置及测试方法,该阵列基板包括:第一信号线和第二信号线,所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开,且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板,为同一栅线提供独立两个独立的信号线,实现对栅线虚接的检测。 | ||
搜索关键词: | 阵列基板 第二信号 显示装置 栅线 测试 信号线 对栅 虚接 耦接 断开 检测 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板,包括:第一信号线和第二信号线,所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开,且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。
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