[发明专利]一种阵列基板、显示装置及测试方法

说明书

一种阵列基板、显示装置及测试方法，该阵列基板包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板，为同一栅线提供独立两个独立的信号线，实现对栅线虚接的检测。

技术领域

本发明涉及电子技术，尤指一种阵列基板、显示装置及测试方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，其制作过程可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备以及彩色滤光板制备、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备、液晶显示模块(LiquidCrystal Module，LCM)制备。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，以确认液晶盒是否存在缺陷。Cell Test简称ET，为液晶面板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。

随着显示领域发展，对产品的特性以及耐用性要求越来越高，更不能出现功能性不良，如X-line(亮线)，Open(断线)等问题。目前，LCD产品在ET点灯过程中很难有效拦截此类不良，导致后端模组资材浪费。更甚，不良产品流入客户端造成严重的损失。

发明内容

本发明至少一实施例提供了一种阵列基板面板和显示装置、测试方法，实现对不良的检测。

为了达到本发明目的，本发明至少一实施例提供了一种阵列基板，包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。

本发明至少一实施例提供一种显示装置，包括任一实施例所述的阵列基板。

本发明至少一实施例提供一种上述阵列基板的测试方法，包括：

向所述第一信号线提供第一电压信号，向所述第二信号线提供与所述第一电压信号极性相反的第二电压信号。

与相关技术相比，本发明一实施例提供的阵列基板包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板，为同一栅线提供独立两个独立的信号线，实现对栅线虚接的检测。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1为Gate(栅)正常与虚接的示意图；

图2为相关技术中ET pad(测试焊盘)走线示意图；

图3为相关技术中一种GOA电路的结构图；

图4为本发明一实施例提供的阵列基板示意图；

图5为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；

图6a为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；

图6b为本发明另一实施例提供的阵列基板示意图；