[发明专利]基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统及定位测量方法

摘要

本发明提供了一种基于近‑远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统及定位测量方法，数据处理工作站向二维扫描平台下发目标点位指令，二维扫描平台将端口探测仪的探测天线移动到扫描平面的目标点位，精确记录探测天线的实时坐标并把实时坐标发送给数据处理工作站，数据处理工作站向端口探测仪下发读取探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间相对电场复振幅的指令，端口探测仪测量探测天线所在点位处相对电场复振幅并将测量值上传给数据处理工作站，得到数据后，数据处理工作站基于近‑远场变换算法将扫描平面内扫到的所采样点位置坐标和该点上电场参数进行综合运算，推导出被测电子系统所在的待测平面内的电磁场分布。该系统结构简单，运算快速，成本低廉。

主权项

1.一种基于近‑远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统，其特征在于：包括二维扫描平台、端口探测仪、数据处理工作站，所述二维扫描平台用于将与端口探测仪相连的探测天线移动到扫描平面的目标点位并精确记录探测天线的实时坐标；所述端口探测仪用于测量探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间的相对电场复振幅；所述数据处理工作站用于向二维扫描平台下发目标点位指令，接收记录探测天线实时坐标，向端口探测仪下发读取探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间相对电场复振幅的指令并读取相关数据，最后基于近‑远场变换算法将扫描平面内扫到的所采样点的位置坐标和该点上的电场参数进行综合运算，最终推导出与扫描平面平行的，被测电子系统所在的待测平面内的电磁场分布。