[发明专利]一种低频测量系统中的样品及制备方法和使用方法

摘要

一种低频测量系统中的样品及制备方法和使用方法，包括标准件、样品、振动源、应变片、超声波探头(P波和S波)、水压端；其中标准件内包括中段圆柱体、上端和下端，上端内部嵌有超声波探头(P波和S波)，中段为中空结构。水压端下端嵌有超声波探头(P波和S波)。样品表面粘贴4组应变片(水平方向和竖直方向)，每组应变片等间隔放置。标准件表面等间隔(90°)粘贴四个竖直方向应变片。在进行地震频带测量(2Hz‑800Hz)时，将水压端、样品、标准件和振动源依次从上至下叠放，且利用水压泵通过水压端施加预竖直方向压力600Psi。本发明提供的样品制备方法可实现地震频带弹性参数测量，且效率高，可进行重复性测量。

主权项

1.一种低频测量系统中的样品制备方法，其特征在于，首先制作标准件(2)，标准件(2)包括由下向上依次设置的下端体(3‑1)、中空结构的中段圆柱体(3‑2)与上端体(3‑3)；上端体(3‑3)顶部嵌有第一超声纵波探头(3‑4)和第一超声横波探头(3‑5)；然后制作样品(3)，样品(3)呈圆柱状，样品(3)表面贴有四组等间距分布的应变片，每组应变片包括第一水平应变片(4‑2)和第一竖直应变片(4‑3)，四组应变片在样品(3)周向上均匀分布；再制作水压端(4)，水压端(4)底部嵌有第二超声纵波探头(6‑4)和第二超声横波探头(6‑3)，水压端(4)顶部设置有孔隙导水管(6‑2)。