[发明专利]一种低频测量系统中的样品及制备方法和使用方法有效

专利信息
申请号: 201810344564.5 申请日: 2018-04-17
公开(公告)号: CN108593377B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 李辉;韩德华;黄琦 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 安彦彦
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 低频 测量 系统 中的 样品 制备 方法 使用方法
【权利要求书】:

1.一种低频测量系统中的样品制备方法,其特征在于,首先制作标准件(2),标准件(2)包括由下向上依次设置的下端体(3-1)、中空结构的中段圆柱体(3-2)与上端体(3-3);上端体(3-3)顶部嵌有第一超声纵波探头(3-4)和第一超声横波探头(3-5);

然后制作岩样(3),岩样(3)呈圆柱状,岩样(3)侧面涂抹防水涂层,岩样(3)表面贴有四组等间距分布的应变片,每组应变片包括第一水平应变片(4-2)和第一竖直应变片(4-3),四组应变片在岩样(3)周向上均匀分布;

再制作水压端(4),水压端(4)底部嵌有第二超声纵波探头(6-4)和第二超声横波探头(6-3),水压端(4)顶部设置有孔隙导水管(6-2);

中段圆柱体(3-2)表面上周向均匀粘贴有四个第二竖直应变片(3-6);

标准件(2)顶端和测量岩样(3)底端间放置超弹性铝膜,在岩样(3)顶端和水压端(4)间放置超弹性铝膜;

振动源(1)为压电陶瓷,在2Hz~800Hz能稳定输出满足地震波场应变要求的正弦波;

第一超声纵波探头(3-4)位于第一超声横波探头(3-5)上方;

四组应变片分别为贴在岩样周向上的0°方位应变片(5-1)、90°方位应变片(5-2)、180°方位应变片(5-3)以及270°方位应变片(5-4);

第二超声纵波探头(6-4)位于第二超声横波探头(6-3)下方;

孔隙导水管(6-2)连接有压力泵;

将所述振动源(1)、标准件(2)、岩样(3)、水压端(4)从下至上依次叠放,形成所述样品。

2.一种根据权利要求1所述的制备方法制备的样品的使用方法,其特征在于,将振动源(1)、标准件(2)、岩样(3)、水压端(4)从下至上依次叠放,将振动源(1)外接电源;将标准件(2)上等间隔的四个应变片外接接收器;将岩样(3)上的四组等间隔设置的应变片外接接收器;调整好每个应变片位置;利用水压端(4)对系统进行加压到600Psi;检测信号;

当进行不同程度流体饱和测量时,打开水压端(4)的阀门;读取水压泵读数,设置流体不同饱和度;检测信号;岩样(3)两端放置有超弹性铝膜。

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