[发明专利]CT约束的电阻抗医疗成像方法有效

专利信息
申请号: 201810335355.4 申请日: 2018-04-13
公开(公告)号: CN108888268B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 张捷;李子昂 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: A61B5/053 分类号: A61B5/053
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 崔亚松
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种CT约束的电阻抗医疗成像方法,包括:(1)在待测区域布设电极,所述电极包括注入电极和测量电极;(2)向注入电极注入微电流,通过测量电极获取测量电压,与此同时,对待测部位进行CT影像扫描,获取待测部位CT值;(3)按照经验,建立一个应用于成像的初始模型;(4)执行CT约束下的电阻抗联合反演过程;(5)获取电压残差曲线,判断电压残差曲线是否收敛,如果不收敛,将新的电阻抗模型定义为初始模型,计算电压残差,计算交叉梯度函数,再次进行迭代得到新的电阻抗模型;如果收敛,则输出当前反演所得电阻抗模型,作为最终反演结果。本发明所述方法能显著提高传统EIT成像的空间分辨率。
搜索关键词: ct 约束 阻抗 医疗 成像 方法
【主权项】:
1.一种CT约束的电阻抗医疗成像方法,包括:(1)在待测区域布设电极,所述电极包括注入电极和测量电极;(2)向注入电极注入微电流,通过测量电极获取测量电压,与此同时,对待测部位进行CT影像扫描,获取待测部位CT值;(3)按照经验,建立一个应用于成像的初始模型;(4)执行CT约束下的电阻抗联合反演过程,所述电阻抗联合反演过程:根据初始模型,通过有限元正演计算理论电压,与测量电压相减获得电压残差;根据初始模型以及CT模型,计算交叉梯度函数;通过高斯牛顿迭代法得到电阻抗残差,将电阻抗残差改正到初始模型得到新的电阻抗模型;(5)获取电压残差曲线,判断电压残差曲线是否收敛,如果不收敛,将新的电阻抗模型定义为初始模型,计算电压残差,计算交叉梯度函数,再次进行迭代得到新的电阻抗模型;如果收敛,则输出当前反演所得电阻抗模型,作为最终反演结果。
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