[发明专利]接触电阻测试电路及芯片有效
| 申请号： | 201810291980.3 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN108761203B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 陈鹏骏;王英;张松鹤;徐宇博;李振明;杜江涛 | 申请（专利权）人： | 成都奕斯伟芯片设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 611730 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种接触电阻测试电路及芯片，其包括电压输入端以及电阻模块，所述电压输入端与管脚绑定结构中的第一焊接部连接，所述电阻模块与管脚绑定结构中的第二焊接部连接，以通过测量所述电阻模块两端的电压确定第一焊接部、所述第二焊接部参与管脚与焊盘的接触形成的接触电阻，从而可以通过接触电阻测试电路中的电源输入端以及电阻模块，方便地对管脚与焊盘之间的接触电阻的电阻值进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 电阻 测试 电路 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种接触电阻测试电路，其特征在于，包括电压输入端以及电阻模块，所述电压输入端与管脚绑定结构中的第一焊接部连接，所述电阻模块与管脚绑定结构中的第二焊接部与连接，以通过测量所述电阻模块两端的电压确定第一焊接部、所述第二焊接部参与管脚与焊盘的接触形成的接触电阻。
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