[发明专利]一种基于设备磁环境变化的磁干扰检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810284562.1 申请日: 2018-04-02
公开(公告)号: CN108897053B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 李仁德;林文华 申请(专利权)人: 广州吉欧电子科技有限公司
主分类号: G01V3/40 分类号: G01V3/40
代理公司: 广州德科知识产权代理有限公司 44381 代理人: 陈晓妍;林玉旋
地址: 510663 广东省广州市高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于设备磁环境变化的磁干扰检测方法及装置,该方法包括:对设备进行初始校正,以获得设备的初始磁校正量,以及检测设备的第一合成磁矢量,根据第一合成磁矢量和所述初始磁校正量,获得设备的地磁参考矢量;在保持设备的位置和姿态不变的状态下,改变设备所处的磁场环境,以及检测所述设备的第二合成磁矢量,以及根据第二合成磁矢量和所述地磁参考矢量,获得设备的磁校正参考量;基于该磁校正参考量测量所述设备的实时地磁矢量。实施本发明实施例,能够在设备磁场环境发生变化状态下快速获取磁校正参考量,以排除对设备地磁的磁干扰,尤其适合野外场合使用或经常更换部件的设备使用,提高用户使用体验和提高使用粘稠度。
搜索关键词: 一种 基于 设备 环境 变化 干扰 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于设备磁环境变化的磁干扰检测方法,其特征在于,包括:对设备进行初始校正,以获得所述设备的初始磁校正量,以及检测所述设备的第一合成磁矢量,根据所述第一合成磁矢量和所述初始磁校正量,获得所述设备的地磁参考矢量;在保持所述设备的位置和姿态不变的状态下,改变所述设备所处的磁场环境,以及检测所述设备的第二合成磁矢量,以及根据所述第二合成磁矢量和所述地磁参考矢量,获得所述设备的磁校正参考量;基于所述磁校正参考量测量所述设备的实时地磁矢量。
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