[发明专利]一种闪存颗粒筛选分级的方法有效
| 申请号： | 201810274355.8 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN108648779B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 方浩俊;徐伟华;王猛 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 广东广和律师事务所 44298 | 代理人： | 董红海 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪存颗粒筛选分级的方法，其特征在于通过温变检验法测试获得闪存颗粒每个块在不同温度条件下写入和不同温度下读取的原始比特错误率；采用对比分类法根据获取的原始比特错误率来判断每个Block的强弱等级，最后根据FLASH中强弱等级的Block的数量分布来区分NAND Flash等级。通过分离写，读的温度，一个给定温度写入后，在多个温度下进行读过程，收集Block的信息数据，可以有效的判断Block的原始比特错误率，从而精确地对Flash进行分类，满足SSD产品的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 颗粒 筛选 分级 方法 | ||
【主权项】：
1.一种闪存颗粒筛选分级的方法，其特征在于通过温变检验法测试获得闪存颗粒各个块在不同温度条件下写入和不同温度下读取的误码率信息；采用对比分类法根据获取的误码率信息来判断每个Block的强弱，最后根据FLASH中各中强弱Block的数量分布来区分NAND Flash等级。
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