[发明专利]基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法在审
| 申请号： | 201810270107.6 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN108257646A | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 党学立;王雯 | 申请（专利权）人： | 榆林学院 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 719000 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法，用于解决现有的直接读写SRAM的测试界面不友好；直接读写SRAM的控制配置不灵活的技术问题。本发明采用FPGA电路模块接收从串口发送的SRAM信号参数数据；采用被测芯片IS61LV10248电路模块作为被测对象；采用基于LabVIEW的SRAM读写间接测试控制面板模块编写前面板人机交互界面；采用写操作控制命令模块执行SRAM写操作；采用读取数据命令模块执行SRAM读操作；采用底层串口驱动模块进行数据交互。本发明的有益效果是：测试界面简单，直观，能很方便地创建用户界面；时序参数调整方便；集成度高，可靠性好，外部的干扰较少。 | ||
| 搜索关键词： | 读写 间接测试装置 测试界面 串口驱动模块 读取数据命令 控制面板模块 人机交互界面 信号参数数据 写操作控制 被测对象 被测芯片 串口发送 电路模块 间接测试 控制配置 命令模块 模块执行 时序参数 数据交互 用户界面 读操作 集成度 灵活的 前面板 写操作 直观 外部 创建 | ||
【主权项】：
1.基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法，其特征在于它具有：FPGA电路模块，接收从串口发送的时间数据，并对时间数据进行内部处理，产生SRAM控制波形；JTAG电路模块，下载FPGA程序，Nios程序，以及在线调试软硬件程序；晶振电路模块，为整个硬件系统提供时钟；基于LabVIEW的SRAM读写间接测试控制面板模块，用于人机交互的；写操作控制命令模块，进行SRAM写操作；`读取数据命令模块，进行SRAM读数据操作；底层串口驱动模块，用于数据对外传输。
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