[发明专利]基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法

说明书

基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法，用于解决现有的直接读写SRAM的测试界面不友好；直接读写SRAM的控制配置不灵活的技术问题。本发明采用FPGA电路模块接收从串口发送的SRAM信号参数数据；采用被测芯片IS61LV10248电路模块作为被测对象；采用基于LabVIEW的SRAM读写间接测试控制面板模块编写前面板人机交互界面；采用写操作控制命令模块执行SRAM写操作；采用读取数据命令模块执行SRAM读操作；采用底层串口驱动模块进行数据交互。本发明的有益效果是：测试界面简单，直观，能很方便地创建用户界面；时序参数调整方便；集成度高，可靠性好，外部的干扰较少。

技术领域

本发明属于集成电路及芯片测试领域，具体涉及到基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法。

背景技术

随着社会的发展，随机存储芯片使用越来越广泛，到处都可见到其身影。尽管SRAM芯片种类繁多，数量庞大，但是这些SRAM芯片的来源，及芯片的好坏我们很难判断出来。究其原因有几种：一是，一些是仿制的SRAM芯片；二是，一些是从设备上拆卸下来的SRAM芯片。依靠肉眼很难判断出SRAM芯片的来源，及芯片的好坏。识别出这些SRAM芯片很有必要：首先，不造成资源浪费；其次，保证使用者的设计性能要求；再次，保护了制造商的原创设计。这就需要我们发明一种SRAM芯片的测试方法，这种测试方法能直观，简单，方便地判断出SRAM芯片的来源，及SRAM芯片的好坏。

LabVIEW是利用计算机强大的图形环境，采用可视化的图形编程语言和平台。LabVIEW具有如下几个方面的优势：用户可以根据自己的需要灵活地定义人机界面；可以采用多种方式显示采集的数据、分析的结果和控制过程；可实时、直接地对数据进行编辑；对外交互接口连接方便，容易；大大节省设计时间，提高工作效率。LabVIEW广泛应用于测量领域，测试领域，控制领域，仿真领域等，已受到越来越多设计者的青睐。

该专利“基于FPGA的SRAM读写控制实验装置”，公布了一种读写SRAM的方法。它是用FPGA做为控制器，产生SRAM读或写操作时序。当FPGA上的串口接收到外部串口设备发送来的数据时，FPGA控制器对接收的数据进行处理：当接收的是写SRAM操作时，FPGA控制器产生写控制逻辑，将接收的数据信息写入SRAM中；当接收的是读SRAM操作时，FPGA控制器产生读控制逻辑，读出相应地址中的数据，并将发送到FPGA上的串口，通过串口发送给外部串口设备。这种读写SRAM的方法，是一种直接读写SRAM的方法。这种直接读写SRAM的方法存在一些不足：FPGA内部读或写的控制逻辑确定后，没法灵活调整；外部串口设备测试环境不确定，调试过程不具有可视化；不利于SRAM读写控制演示，仍然不能简单，直观，灵活地进行SRAM读写测试。

发明内容

本发明所要解决的是上述直接读写SRAM的测试界面不友好；直接读写SRAM的控制配置不灵活的技术问题，提供了基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法。

本发明解决其技术问题采用的技术方案是，基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法，其特点包括以下步骤：

步骤一：搭建基于LabVIEW的SRAM读写间接测试的硬件环境:一种基于LabVIEW的SRAM芯片读写间接测试方法，硬件部分包括FPGA电路模块，JTAG电路模块，晶振电路模块，以及被测芯片IS61LV10248电路模块。其中，FPGA电路模块功能是接收从串口发送的时间数据，并将这些时间数据进行内部处理，最终从FPGA的引脚输出信号波形，控制被测芯片IS61LV10248的读写操作。JTAG电路模块功能是下载FPGA程序，Nios IDE程序，以及在线调试软硬件程序。晶振电路模块功能是为整个硬件系统提供时钟，本发明中用到的晶振是有源晶振，频率为50MHZ,稳定性较好。被测芯片IS61LV10248电路模块是被测对象，FPGA电路模块通过控制信号，地址信号，数据信号访问IS61LV10248电路模块；