[发明专利]双能探测方法与装置有效

专利信息
申请号: 201810262091.4 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN110333252B 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 李树伟;张清军;邹湘;赵博震;王钧效;朱维彬;王永强;张文剑 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/087;G01B15/02
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 阚梓瑄;王卫忠
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括:X射线源,用于向被测物体发送X射线束;闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号;切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
搜索关键词: 探测 方法 装置
【主权项】:
1.一种双能探测装置,其特征在于,包括:X射线源,用于向被测物体发送第一X射线束;闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的第二X射线束以生成第一电信号;切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述闪烁探测器的第三X射线束以生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、厚度以及材质信息。
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