[发明专利]一种测量倍频腔倍频效率的方法

摘要

本发明公开了一种测量倍频腔倍频效率的方法，该方法改进了原有技术由于忽略腔内损耗造成的误差扩大和使用受限，使得可以在损耗存在的情况下测量倍频效率，该方法整个测量过程都避免使用光功率计，只使用同一光电探测器测量同一波长，不存在因为校准功率探头产生的不确定度，系统误差可以大幅减小。该方法还可以不进行锁腔就完成测量，测量效率快，有益于倍频腔初期调试和参数选择，避免由于初期系统不稳定导致测量效率重复性差，影响对参数的调整。

主权项

1.一种测量倍频腔倍频效率的方法，其特征在于，包括：利用反光镜、光电探测器及衰减片搭建测量光路，其中光电探测器的输出信号连接到示波器；然后，执行如下步骤：将入射光功率调到最大或需测功率值，在示波器上观察并记录在谐振腔共振与非共振情况下反射光分别对应的电压值V1_min与V1_max；把入射光功率调到最低，如果示波器示数低于预设值则将衰减片衰减调低或去掉，使示波器上能观察到符合要求的电压值，调节倍频腔中非线性晶体温度使之远离最佳匹配温度，即使非线性晶体温度完全失配，再次记录倍频腔在共振和非共振情况下反射光分别对应的电压值V2_min与V2_max；将光电探测器遮住，测量并记录其0功率输入状态的电压值V0；结合电压值V1_min、V1_max、V2_min、V2_max与V0计算倍频腔倍频效率。