[发明专利]一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法有效
| 申请号： | 201810250791.1 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108572285B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 高成;张科辉;黄姣英;张利彬;张俊 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 11232 北京慧泉知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法，它有以下步骤：一、对高速光耦进行低频宽带噪声测试；二、分别对应不同温度温度应力下进行恒定应力加速退化试验；三、进行恒定应力加速退化试验期间每周对高速光耦进行一次低频宽带噪声测试；四、基于低频宽带噪声电压的退化模型；五、根据基于低频宽带噪声的退化模型，计算出合格高速光耦器件的低频宽带噪声能满足的范围，用于高速光耦器件的筛选中；本发明提供一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法，给出了一种通过高速光耦微观参数对高速光耦进行筛选的新方法，在高速光耦筛选方面具有广阔应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 高速光耦 低频宽带 筛选 噪声 恒定应力 退化模型 噪声测试 退化 广阔应用 试验期间 微观参数 温度应力 噪声电压 噪声能 试验 | ||
【主权项】：
1.一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法，其特征在于：它包括以下步骤：/n步骤一：选取N只高速光耦器件样品，编号为1～N#，使用噪声测试系统对这些器件进行低频宽带噪声测试；得到的数据均为实际输出噪声Sout(f)，器件本身的噪声/nSv(f)＝Sout(f)-Sback(f) (1)/n式中，Sv(f)为器件本身噪声；/nSout(f)为实际输出噪声；/nSback(f)为背景噪声；/n高速光耦器件的输出噪声比测试系统的背景噪声大2到3个数量级，所以Sv(f)≈Sout(f)，采用直接测试结果Sout(f)代替Sv(f)；/n步骤二：采用加大应力而又不改变产品失效机理的方式使产品退化过程加速，这样的试验被称为加速退化试验；对于高速光耦器件来讲，温度应力对于高速光耦器件的影响最大；将N只高速光耦器件分为预定组，分别对应于不同温度应力下进行恒定应力加速退化试验，持续进行预定周试验；/n步骤三：在进行恒定应力加速退化试验期间每周进行一次低频宽带噪声测试，测试每只高速光耦器件的低频宽带噪声电压；/n步骤四：确定基于低频宽带噪声电压的退化模型；对步骤三中得到的低频宽带噪声电压的数据进行处理，对其取10为底的对数；将宽带噪声数据取对数之后，进行降序排序，将低频宽带噪声作为自变量，将低频宽带噪声与伪寿命描绘成散点图，与伪寿命之间建立数学关系；采用决定系数R
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