[发明专利]一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法在审
| 申请号： | 201810245491.4 | 申请日： | 2018-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN108534994A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 昌明;赵建科;李晶;薛勋;曹昆;胡丹丹 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 倪金荣 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学测试技术领域，针对现有均匀光源均匀性测试装置中，面均匀性测试装置有效扫描区域不完整，角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要，提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法。其中测试装置包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统；升降装置设置在支架上，载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上；载物台设置旋转电机，摆臂安装在旋转电机的输出端；滑块安装在摆臂上，光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上，光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 均匀性测试装置 均匀光源 转换装置 光亮度探测器 升降装置 旋转电机 载物台 摆臂 滑块 测量控制系统 探测器位置 测试装置 平台位置 大口径 支架 光学测试技术 有效扫描区域 滑块驱动 面均匀性 出射面 电连接 输出端 增大的 电机 通用 | ||
【主权项】：
1.一种大口径均匀光源的均匀性测试装置，其特征在于：包括支架(1)、升降装置(2)、平台位置转换装置(3)、载物台(4)、摆臂(5)、滑块(6)、探测器位置转换装置(7)、光亮度探测器(8)以及测量控制系统(9)；所述升降装置(2)设置在支架(1)上，载物台(4)通过平台位置转换装置(3)设置在升降装置(2)上；载物台(4)设置旋转电机，摆臂(5)安装在旋转电机的输出端；滑块(6)安装在摆臂(5)上，并通过滑块驱动电机驱动其沿摆臂(5)移动；所述平台位置转换装置(3)可相对支架(1)旋转，从而使摆臂(5)的旋转平面与水平面垂直或平行；所述光亮度探测器(8)通过探测器位置转换装置(7)安装在滑块(6)上，探测器位置转换装置(7)用于控制光亮度探测器(8)的探测方向，使探测器的探测方向垂直或平行于摆臂(5)的旋转平面；所述光亮度探测器(8)、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统(9)电连接，测量控制系统(9)用于实现光亮度探测器(8)探测数据的处理，以及控制旋转电机和滑块驱动电机的运动。
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