[发明专利]一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置及多路ID/TE检测器在审

专利信息
申请号: 201810235911.0 申请日: 2018-03-21
公开(公告)号: CN108492756A 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 邹飞 申请(专利权)人: 武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 鲁力
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及液晶模组的检测领域。尤其是涉及一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置及多路ID/TE检测器,本发明在原有的PG不变的情况下外接此装置,通过PC软件和本装置建立通讯后实现检测通过电压跟随器+DAC模块采集ID的电平;电压跟随器+GPIO采集TE的频率。最后设置的阈值以及设置的误差范围进行OK/NG判断。本发明即避免原单独PG接口GPIO引脚不足的问题,更能方便产线作业,极大提高检测效率,同时还具备升级方便,节约成本等优点。
搜索关键词: 多路 液晶模组 检测器 电压跟随器 检测装置 采集 检测领域 装置建立 原有的 检测 产线 外接 节约 通讯 升级
【主权项】:
1.一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置,其特征在于,包括MCU中央处理单元、至少一组信号传输单元;其中,MCU中央处理单元具有至少一组ID检测引脚以及TE检测引脚,信号传输单元具有至少一组ID信号接收端口和ID信号输出端口、以及至少一组TE信号接收端口和TE信号输出端口,待检测液晶模组的ID检测引脚分别通过信号传输单元的ID信号接收及输出端口与MCU中央处理单元ID检测引脚连接;待检测液晶模组的TE检测引脚分别通过信号传输单元的TE信号接收及输出端口与MCU中央处理单元TE检测引脚连接。
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