[发明专利]一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置及多路ID/TE检测器

说明书

本发明涉及液晶模组的检测领域。尤其是涉及一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置及多路ID/TE检测器，本发明在原有的PG不变的情况下外接此装置，通过PC软件和本装置建立通讯后实现检测通过电压跟随器+DAC模块采集ID的电平；电压跟随器+GPIO采集TE的频率。最后设置的阈值以及设置的误差范围进行OK/NG判断。本发明即避免原单独PG接口GPIO引脚不足的问题，更能方便产线作业，极大提高检测效率，同时还具备升级方便，节约成本等优点。

技术领域

本发明涉及本发明涉及液晶模组的检测领域，尤其是涉及一种针对液晶模组的多路ID/TE检测方法及装置。

背景技术

随着液晶面板产品品质的要求愈加严格，需要通过对面板IC产生的ID/TE信号进行检测，以便将有缺陷的模组提前筛除，目前绝大多数客户通过万用表，示波器、逻辑分析仪进行检测，操作繁琐且不便于产线作业。少部分客户通过PG接口预留的FPGA和ARM的GPIO引脚来实现，但存在引脚过少，检测精度差，与其它检查功能存在冲突的问题，不能很好的兼容。

发明内容

本发明主要是解决现有技术所存在的技术问题；提供了一种在原有的PG不变的情况下外接此装置，通过PC软件和本装置建立通讯后实现检测，即避免原单独PG接口GPIO引脚不足的问题，更能方便产线作业，极大提高检测效率，同时还具备升级方便，节约成本等优点。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，包括MCU中央处理单元、至少一组信号传输单元；其中，

MCU中央处理单元具有至少一组ID检测引脚以及TE检测引脚，信号传输单元具有至少一组ID信号接收端口和ID信号输出端口、以及至少一组TE信号接收端口和TE信号输出端口，待检测液晶模组的ID检测引脚分别通过信号传输单元的ID信号接收及输出端口与MCU中央处理单元ID检测引脚连接；待检测液晶模组的TE检测引脚分别通过信号传输单元的TE信号接收及输出端口与MCU中央处理单元TE检测引脚连接。

2在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，信号传输单元包括电压跟随器和图形信号发生器，所述图形信号发生器的若干输出检测引脚与待检测液晶模组的若干ID或TE检测引脚连接，图形信号发生器的若干输入检测引脚通过电压跟随器与MCU中央处理单元的检测引脚连接。

在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，所述图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组ID或TE检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与MCU中央处理单元的ID或TE检测引脚对应。

在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，所述MCU中央处理单元为单片机，MCU中央处理单元的ID检测引脚为单片机的ADC引脚，MCU中央处理单元的TE检测引脚为单片机的GPIO引脚，图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组ID或TE检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与单片机的ADC或GPIO检测引脚对应。

在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，还包括一个上位机，通过RS232连接协议与MCU中央处理单元连接，所述上位机用于配置检测参数，检测参数包括开电通道，当前检测引脚状态，当前检测状态，以及设置判断阈值的最大值和最小值，其中，开电通道包括待检测液晶模组点屏通道和ID/TE检测通道，当前检测引脚状态包括ID引脚状态和TE引脚状态；当前检测状态包括ID检测状态和TE检测状态。

在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，所述单片机包括设置有信号采集单元的第一可编程逻辑器件，设置有信号判断单元的第二可编程逻辑器件，上位机设有控制单元的第三可编程逻辑器件。

在上述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，