[发明专利]一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置及多路ID/TE检测器

权利要求书

1.一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，包括MCU中央处理单元、至少一组信号传输单元；其中，

MCU中央处理单元具有至少一组ID检测引脚以及TE检测引脚，信号传输单元具有至少一组ID信号接收端口和ID信号输出端口、以及至少一组TE信号接收端口和TE信号输出端口，待检测液晶模组的ID检测引脚分别通过信号传输单元的ID信号接收及输出端口与MCU中央处理单元ID检测引脚连接；待检测液晶模组的TE检测引脚分别通过信号传输单元的TE信号接收及输出端口与MCU中央处理单元TE检测引脚连接。

2.根据权利要求1所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，信号传输单元包括电压跟随器和图形信号发生器，所述图形信号发生器的若干输出检测引脚与待检测液晶模组的若干ID或TE检测引脚连接，图形信号发生器的若干输入检测引脚通过电压跟随器与MCU中央处理单元的检测引脚连接。

3.根据权利要求1所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，所述图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组ID或TE检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与MCU中央处理单元的ID或TE检测引脚对应。

4.根据权利要求3所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，所述MCU中央处理单元为单片机，MCU中央处理单元的ID检测引脚为单片机的ADC引脚，MCU中央处理单元的TE检测引脚为单片机的GPIO引脚，图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组ID或TE检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与单片机的ADC或GPIO检测引脚对应。

5.根据权利要求1所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，还包括一个上位机，通过RS232连接协议与MCU中央处理单元连接，所述上位机用于配置检测参数，检测参数包括开电通道，当前检测引脚状态，当前检测状态，以及设置判断阈值的最大值和最小值，其中，开电通道包括待检测液晶模组点屏通道和ID/TE检测通道，当前检测引脚状态包括ID引脚状态和TE引脚状态；当前检测状态包括ID检测状态和TE检测状态。

6.根据权利要求5所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，所述单片机包括设置有信号采集单元的第一可编程逻辑器件，设置有信号判断单元的第二可编程逻辑器件，上位机设有控制单元的第三可编程逻辑器件。

7.根据权利要求6所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，

第一可编程逻辑器件用于通过信号传输单元同时采集多路待检测液晶模组的ID的电平以及TE的频率；

第二可编程逻辑器件用于根据配置的检测参数，判断每路检测的ID的电平以及TE的频率是否符合检测参数，并将检测结果输出至三可编程逻辑器件；

第三可编程逻辑器件用于根据第二可编程逻辑器件的判断结果控制图形信号发生器输出图形信号至该路待检测液晶模组，点亮待检测液晶模组，或者终止点屏流程。

8.根据权利要求7所述的一种针对液晶模组的多路ID/TE检测装置，其特征在于，

当前检测状态配置为ID检测状态时，当前检测引脚状态对应配置为ID引脚状态，且第一可编程逻辑器件同时进行电平采集，并记录电压值；

当前检测状态配置为TE检测状态时，当前检测引脚状态对应配置为TE引脚状态，且第一可编程逻辑器件同时采集方波的两个下降沿，记录两个下降沿的时间，通过公式f＝1/T计算出频率，其中，T为从上一个下降沿至下一个下降沿时间。