[发明专利]自动光学检测设备在审
| 申请号： | 201810205730.3 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108414530A | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 高文龙 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐清凯 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种自动光学检测设备，用于对待测物的缺陷进行检测，包括：光源照明装置，包括亮视场光源、暗视场光源和背光源中的至少两种光源；所述光源照明装置中的至少两种光源相互切换照射于所述待测物上；图像获取装置，用于对所述待测物进行扫描并分别获取所述待测物在各光源下的灰阶图像信息；以及图像处理装置，与所述图像获取装置连接，用于根据各灰阶图像信息判断所述待测物是否存在缺陷并输出缺陷检测结果。上述自动光学检测设备能够有效检出待测物上的缺陷，检出率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 待测物 自动光学检测设备 光源 光源照明装置 图像获取装置 灰阶图像 缺陷检测结果 图像处理装置 暗视场光源 信息判断 背光源 检出率 亮视场 检出 照射 扫描 输出 检测 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检测设备，用于对待测物的缺陷进行检测，其特征在于，包括：光源照明装置，包括亮视场光源、暗视场光源和背光源中的至少两种光源；所述光源照明装置中的至少两种光源相互切换照射于所述待测物上；图像获取装置，用于对所述待测物进行扫描并分别获取所述待测物在各光源下的灰阶图像信息；以及图像处理装置，与所述图像获取装置连接，用于根据各灰阶图像信息判断所述待测物是否存在缺陷并输出缺陷检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山国显光电有限公司，未经昆山国显光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810205730.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
