[发明专利]自动光学检测设备在审

专利信息
申请号: 201810205730.3 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN108414530A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 高文龙 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 唐清凯
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 待测物 自动光学检测设备 光源 光源照明装置 图像获取装置 灰阶图像 缺陷检测结果 图像处理装置 暗视场光源 信息判断 背光源 检出率 亮视场 检出 照射 扫描 输出 检测
【权利要求书】:

1.一种自动光学检测设备,用于对待测物的缺陷进行检测,其特征在于,包括:

光源照明装置,包括亮视场光源、暗视场光源和背光源中的至少两种光源;所述光源照明装置中的至少两种光源相互切换照射于所述待测物上;

图像获取装置,用于对所述待测物进行扫描并分别获取所述待测物在各光源下的灰阶图像信息;以及

图像处理装置,与所述图像获取装置连接,用于根据各灰阶图像信息判断所述待测物是否存在缺陷并输出缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,还包括存储装置;所述存储装置用于存储待测物在各光源下的灰阶图像信息的参考阈值;所述图像处理装置用于将各灰阶图像信息与对应的参考阈值进行比较判断以确定是否存在缺陷。

3.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述图像处理装置还用于在检测出缺陷时提取检测出对应缺陷的灰阶图像信息中的缺陷特征,并根据所述缺陷特征确定对应缺陷的类型。

4.根据权利要求3所述的自动光学检测设备,其特征在于,还包括存储装置,所述存储装置用于存储待测物中的各缺陷类型对应的各光源下的灰阶图像信息中的缺陷特征以作为参考特征;所述图像处理装置用于将提取出的缺陷特征与所述参考特征进行比较确定对应缺陷的类型。

5.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述光源照明装置包括亮视场光源、暗视场光源和背光源;所述亮视场光源用于垂直照射于所述待测物上;所述暗视场光源用于倾斜照射于所述待测物上。

6.根据权利要求5所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述亮视场光源、所述暗视场光源和所述背光源周期性切换照射于所述待测物上。

7.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述图像获取装置包括CCD相机和镜头;所述镜头用于对获取的图像精度进行调节;所述CCD相机用于根据各光源在所述待测物上反射或者透射来的光信号得到对应的灰阶图像信息。

8.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述图像获取装置还用于在所述图像处理装置确定所述待测物存在缺陷时,获取相应缺陷所在扫描区域的彩色图像并输出。

9.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,所述暗视场光源的照射角度为可调;所述图像获取装置还用于获取所述暗视场光源在不同照射角度下的灰阶图像信息以输出至所述图像处理装置进行缺陷判断。

10.根据权利要求1所述的自动光学检测设备,其特征在于,还包括服务器,所述服务器用于接收并存储所述图像处理装置输出的缺陷检测结果以供远程终端进行查询。

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