[发明专利]多探头扫描测试架在审
| 申请号： | 201810188281.6 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110244136A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 刘科宏 | 申请（专利权）人： | 刘科宏 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 何星民 |
| 地址： | 571126 海南*** | 国省代码： | 海南;46 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种多探头扫描测试架，包括：机架；至少两组承载于所述机架的多探头测试组件，所述多探头测试组件包括：承载于所述机架的第一剪叉式支架；以及，装配于所述剪叉式支架的位于同一轴线的各节点处的测试探头；以及，用于所述驱动各第一剪叉式支架伸缩的第一驱动机构。由于设置了至少两组多探头测试组件，且每组多探头测试组件中具有多个测试探头，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构驱动第一剪叉式支架伸缩时，由于测试探头设置在节点处，因此在第一剪叉式支架伸缩时，各测试探头之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 多探头 剪叉式 支架 测试探头 测试组件 伸缩 第一驱动机构 扫描测试 节点处 两组 承载 驱动 同一轴线 阵列天线 适配 装配 天线 测试 | ||
【主权项】：
1.一种多探头扫描测试架，其特征在于，包括：机架(1)；承载于所述机架(1)的多探头测试组件(2)，所述多探头测试组件(2)包括：承载于所述机架(1)的第一剪叉式支架(21)；以及，装配于所述第一剪叉式支架(21)的位于同一轴线的各节点处的测试探头(22)；以及，用于驱动各所述第一剪叉式支架(21)伸缩的第一驱动机构(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于刘科宏，未经刘科宏许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810188281.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
