[发明专利]多探头扫描测试架

说明书

本发明涉及一种多探头扫描测试架，包括：机架；至少两组承载于所述机架的多探头测试组件，所述多探头测试组件包括：承载于所述机架的第一剪叉式支架；以及，装配于所述剪叉式支架的位于同一轴线的各节点处的测试探头；以及，用于所述驱动各第一剪叉式支架伸缩的第一驱动机构。由于设置了至少两组多探头测试组件，且每组多探头测试组件中具有多个测试探头，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构驱动第一剪叉式支架伸缩时，由于测试探头设置在节点处，因此在第一剪叉式支架伸缩时，各测试探头之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。

技术领域

本发明涉及天线测量技术领域，更具体地说，它涉及一种多探头扫描测试架。

背景技术

为适应现代通信设备的需求，阵列天线在逐渐得到普及和广泛的应用，阵列天线就是用多个天线单元来提高包括高增益在内的天线性能。

在民用的交通工具中，需要阵列天线在较宽频带内支持通信、雷达、情报交换和导航，由于不同的阵列天线阵子间距、阵子数量都不相同，传统的阵列天线测试时采用单个探头对多个阵子逐一扫描即可获取每个阵子的辐射性能，然而随着阵列天线的大规模使用，该方法测试效率难以满足日益增长的测试需求。

而传统的多探头测试方案虽然能够加快天线测试速度，但由于各探头间间距固定，一套多探头天线测试系统只能测试对应探头间距的阵列天线，适用性较差。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明实施例的目的在于提供一种多探头扫描测试架，具有可调节各探头之间的间距以测试不同规格的阵列天线的优点。

本发明实施例的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种多探头扫描测试架，包括：

机架；

承载于所述机架的多探头测试组件，所述多探头测试组件包括：承载于所述机架的第一剪叉式支架；以及，装配于所述第一剪叉式支架的位于同一轴线的各节点处的测试探头；以及，

用于所述驱动各第一剪叉式支架伸缩的第一驱动机构。

实现上述技术方案，由于每组多探头测试组件中具有多个测试探头，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构驱动第一剪叉式支架伸缩时，由于测试探头设置在节点处，因此在第一剪叉式支架伸缩时，各测试探头之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。

进一步的，所述第一剪叉式支架的两端均为相互铰接的短杆并形成第一承载端和第二承载端，所述第一承载端承载于所述机架；

所述第一驱动机构包括：

滑动式装配于所述机架的推移杆，各所述第一剪叉式支架的第二承载端承载于所述推移杆；以及，

与所述推移杆相装配、用于驱动所述推移杆沿所述第一剪叉式支架伸缩方向移动的第一驱动组件。

进一步的，所述第一驱动组件从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构。

实现上述技术方案，第一驱动组件对推移杆施加驱动力时，即可驱动各第一剪叉式支架发生伸缩运动，从而调整了测试探头之间的距离。

进一步的，各所述测试探头设置于所述第一剪叉式支架的中心节点处。

实现上述技术方案，使得各测试探头在调节时仅在第一剪叉式支架的伸缩方向上发生变化，调节过程更加方便。

进一步的，所述多探头测试组件至少设置两组，相邻所述多探头测试组件中的测试探头为极化方向相反的单极化探头。

实现上述技术方案，可以替代传统的双极化探头进行测试，由于单极化探头的尺寸要小于双极化探头，从而减小测试探头的尺寸。