[发明专利]一种光场图像配准方法及系统

摘要

本发明公开了一种光场图像配准方法及系统。该方法包括：获取左目标光场图像和右目标光场图像；分别确定左目标光场图像的多个矩形检测区域和右目标光场图像的多个检测区域；从左目标光场图像的每个检测区域中提取第一特征点，构成第一特征点集；从右目标光场图像的每个检测区域中提取第二特征点，构成第二特征点集；利用暴力算法对第一特征点集中的特征点与第二特征点集中的特征点进行匹配，得到多个匹配点对；确定各个匹配点对中特征点的坐标；依据坐标，计算单应矩阵；依据单应矩阵，得到左目标光场图像和右目标光场图像配准后的图像。本发明能够提高重叠区域较小的两幅光场图像进行配准的配准精度，还可以降低时间消耗。

主权项

1.一种光场图像配准方法，其特征在于，包括：获取左目标光场图像和右目标光场图像，所述左目标光场图像和所述右目标光场图像具有重叠区域；以左目标光场图像中对应每个微透镜的中心为矩形中心，以所述左目标光场图像中预设个数的像素长度为矩形边长，确定所述左目标光场图像的多个矩形检测区域；以右目标光场图像中对应每个微透镜的中心为矩形中心，以所述右目标光场图像中所述预设个数的像素长度为半径，确定所述右目标光场图像的多个检测区域；利用尺度不变特征变换算法从所述左目标光场图像的每个检测区域中提取第一特征点，构成第一特征点集，所述第一特征点为所述左目标光场图像中每个检测区域中的尺度不变性满足预设阈值的特征点；利用尺度不变特征变换算法从所述右目标光场图像的每个检测区域中提取第二特征点，构成第二特征点集，所述第二特征点为所述右目标光场图像中每个检测区域中的尺度不变性满足所述预设阈值的特征点；利用暴力算法对所述第一特征点集中的特征点与所述第二特征点集中的特征点进行匹配，得到多个匹配点对；确定各个所述匹配点对中特征点的坐标；依据所述坐标，计算单应矩阵；依据所述单应矩阵，得到所述左目标光场图像和所述右目标光场图像配准后的图像。