[发明专利]消除电容电压系数对全差分SAR-ADC性能影响的方法有效

专利信息
申请号: 201810153781.6 申请日: 2018-02-22
公开(公告)号: CN108259040B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 杨小坤;原义栋;胡毅;何洋;李振国 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
主分类号: H03M1/06 分类号: H03M1/06;H03M1/46
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 王崇
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法。该方法包括以下步骤:提供一种全差分SAR‑ADC,其包括多个电容,所述多个电容包括第一电容和第二电容,且所述多个电容的电压二阶系数值包括正数和负数;将满足特定条件的第一电容和第二电容进行并联从而使并联后的电容的电压二阶系数为0,所述特定条件为A1K1+A2K2=0,其中A1为第一电容的电压二阶系数,A2为第二电容的电压二阶系数,K1是第一电容的理想电容值,K2是第二电容的理想电容值。该消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法能够消除或降低电容电压系数对全差分SAR‑ADC的性能影响,降低高精度SAR‑ADC的设计瓶颈。
搜索关键词: 消除 电容 电压 系数 全差分 sar adc 性能 影响 方法
【主权项】:
1.一种消除电容电压系数对全差分SAR‑ADC性能影响的方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一种全差分SAR‑ADC,其包括多个电容,所述多个电容包括第一电容和第二电容,且所述多个电容的电压二阶系数值包括正数和负数;和将满足特定条件的第一电容和第二电容进行并联从而使并联后的电容的电压二阶系数为0,所述特定条件为A1K1+A2K2=0,其中A1为第一电容的电压二阶系数,A2为第二电容的电压二阶系数,K1是第一电容的理想电容值,K2是第二电容的理想电容值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司,未经北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810153781.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top