[发明专利]高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法

摘要

本发明公开了一种高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法。本发明利用杂波边缘区域杂波回波功率方差波动较大的特点，获得包含杂波边缘分界线的二维检测滑窗；然后利用最大似然恒虚警检测算法获得二维检测滑窗中杂波边缘分界线的具体位置，进而有效地估计出目标单元的真实背景杂波功率，从而实现杂波边缘区域的微小目标检测，能有效改善杂波边缘附近的微小目标检测概率，扩展场面微小目标检测毫米波雷达的适用范围。

主权项

1.一种高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，对雷达目标区域进行二维滑窗探测，计算二维探测滑窗中的杂波回波功率方差，若杂波回波功率方差小于设定的门限值Kv，则直接对该探测滑窗进行恒虚警检测；若杂波回波功率方差大于或等于门限值Kv，则认为该探测滑窗中包含杂波边缘分界线，执行步骤2；步骤2，针对包含有杂波边缘分界线的二维检测滑窗，按行进行最大似然恒虚警检测，获得该行的杂波边缘分界单元的位置，从而获得该二维检测滑窗中的杂波边缘分界线；通过比较二维检测滑窗中杂波边缘分界单元左右两侧单个单元的功率均值大小，将二维检测滑窗分为高杂波功率区域和低杂波功率区域两个子区域；步骤3，针对二维检测滑窗中的低杂波功率子区域，对该子区域内的所有杂波回波功率按照大小顺序排列，计算该子区域杂波回波功率方差，若方差小于门限值Kv，对该子区域进行恒虚警检测；若方差大于或等于门限值Kv，则剔除该子区域内最大杂波回波功率值所在单元，更新该子区域，计算更新后子区域杂波回波功率方差，并做门限值判断，若新计算的方差仍大于或等于门限值Kv，则重复上述剔除过程，直到更新后子区域杂波回波功率方差小于门限值Kv，执行恒虚警检测，或者剔除次数大于N/2，执行步骤4；其中N为二维检测滑窗的单元总数目；步骤4，恢复滑窗内的所有数据，返回步骤3，计算子区域内的杂波回波功率均值，利用均值进行剔除。