[发明专利]高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法

权利要求书

1.一种高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，对雷达目标区域进行二维滑窗探测，计算二维探测滑窗中的杂波回波功率方差，若杂波回波功率方差小于设定的门限值Kv，则直接对该探测滑窗进行恒虚警检测；若杂波回波功率方差大于或等于门限值Kv，则认为该探测滑窗中包含杂波边缘分界线，执行步骤2；

步骤2，针对包含有杂波边缘分界线的二维检测滑窗，按行进行最大似然恒虚警检测，获得该行的杂波边缘分界单元的位置，从而获得该二维检测滑窗中的杂波边缘分界线；通过比较二维检测滑窗中杂波边缘分界单元左右两侧单个单元的功率均值大小，将二维检测滑窗分为高杂波功率区域和低杂波功率区域两个子区域；

步骤3，针对二维检测滑窗中的低杂波功率子区域，对该子区域内的所有杂波回波功率按照大小顺序排列，计算该子区域杂波回波功率方差，若方差小于门限值Kv，对该子区域进行恒虚警检测；若方差大于或等于门限值Kv，则剔除该子区域内最大杂波回波功率值所在单元，更新该子区域，计算更新后子区域杂波回波功率方差，并做门限值判断，若新计算的方差仍大于或等于门限值Kv，则重复上述剔除过程，直到更新后子区域杂波回波功率方差小于门限值Kv，执行恒虚警检测，或者剔除次数大于N/2，执行步骤4；其中N为二维检测滑窗的单元总数目；

采用同样的方法对二维检测滑窗中的高杂波功率子区域进行恒虚警检测，但在对子区域进行更新时，剔除子区域内最小杂波回波功率值所在单元；

步骤4，恢复滑窗内的所有数据，返回步骤3，计算子区域内的杂波回波功率均值，若均值小于门限值Ku，则对该子区域进行恒虚警检测，若均值大于或等于门限值Ku，则根据该子区域的剔除模式，每次剔除一个最大值或者最小值所对应的单元，更新该子区域，然后统计新的均值，并做门限值判断，依次剔除，直到新的均值小于门限值，对更新后的子区域进行恒虚警检测。

2.如权利要求1所述的高分辨雷达非均匀杂波场景微小目标恒虚警检测方法，其特征在于，在执行步骤1之前，先计算雷达目标区域的杂波强度，将目标区域分为检测区域和杂波区域，其中杂波区域和检测区域的交界区域即为杂波分界线所在区域，对杂波分界线所在区域执行步骤1的二维滑窗探测。