[发明专利]光谱测定装置以及光谱测定方法有效
| 申请号： | 201810122162.0 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN108458786B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 前田吾郎 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备：CCD(Charge Coupled Device)检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光谱测定装置，具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。
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