[发明专利]可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置有效
| 申请号： | 201810114291.5 | 申请日： | 2018-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN108387780B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 李锐;王明连;任德均;陈翔;杨平安;周梦娇;朱洪浪;冯丹 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01L11/00;G01R33/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吕小琴 |
| 地址： | 400065 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其包括用于向待测器件施加压力/剪力的施力装置，用于为待测器件提供可控磁场的磁场发生装置，以及用于实时采集并存储施加在待测器件上的压力信息、磁场强度及其自身的电阻信息的信号采集装置，以及用于根据采集到的所述压力信息、磁场强度和电阻信息计算得到待测器件在不同磁场下的压阻/剪阻信息。该发明提出了一种新型力学传感器夹具设计方案，可以使压阻/剪阻的测试在同一台设备上进行；通过在装置中增加了磁场发生装置可对器件进行不同磁场下的压阻剪阻性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 可控 磁场 下磁敏 器件 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，包括用于向待测器件施加压力/剪力的施力装置，用于为待测器件提供可控磁场的磁场发生装置，以及用于实时采集并存储施加在待测器件上的压力信息、磁场强度及其自身的电阻信息的信号采集装置，以及用于根据采集到的所述压力信息、磁场强度和电阻信息计算得到待测器件在不同磁场下的压阻/剪阻信息。
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