[发明专利]偏振片光学参数的测试装置在审

专利信息
申请号: 201810113363.4 申请日: 2018-02-05
公开(公告)号: CN108489710A 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 刘军 申请(专利权)人: 北京灵犀微光科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了偏振片光学参数的测试装置。所述测试装置包括:控制模块、测试光模块、被测件固定模块、第一检测模块和第二检测模块;所述被测件固定模块,用于固定所述偏振片;所述测试光模块,用于产生测试光并投射至所述偏振片;检测所述测试光的第一能量值;所述第一检测模块,用于检测来自所述偏振片的第一反射光的第二能量值;所述第二检测模块,用于检测来自所述偏振片的第一透射光的第三能量值;所述控制模块,用于控制所述被测件固定模块、所述测试光模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块的状态;根据所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值,计算所述偏振片的光学参数。实现在一次测试中对偏振片的光学参数进行全面评价。
搜索关键词: 偏振片 测试光 光学参数 测试装置 第二检测 固定模块 检测模块 被测件 控制模块 检测 全面评价 反射光 透射光 投射 测试
【主权项】:
1.一种偏振片光学参数的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:控制模块、测试光模块、被测件固定模块、第一检测模块和第二检测模块;所述被测件固定模块,用于固定所述偏振片;所述测试光模块,用于产生测试光并投射至所述偏振片;检测所述测试光的第一能量值;所述第一检测模块,用于检测来自所述偏振片的第一反射光的第二能量值;所述第二检测模块,用于检测来自所述偏振片的第一透射光的第三能量值;所述控制模块,用于控制所述被测件固定模块、所述测试光模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块的状态;根据所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值,计算所述偏振片的光学参数。
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