[发明专利]偏振片光学参数的测试装置

说明书

本发明公开了偏振片光学参数的测试装置。所述测试装置包括：控制模块、测试光模块、被测件固定模块、第一检测模块和第二检测模块；所述被测件固定模块，用于固定所述偏振片；所述测试光模块，用于产生测试光并投射至所述偏振片；检测所述测试光的第一能量值；所述第一检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；所述第二检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；所述控制模块，用于控制所述被测件固定模块、所述测试光模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块的状态；根据所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，计算所述偏振片的光学参数。实现在一次测试中对偏振片的光学参数进行全面评价。

技术领域

本发明涉及测试领域，特别涉及偏振片光学参数的测试装置。

背景技术

偏振片的光学参数主要包括：反射率、透射率、消光比和损耗率。目前针对偏振片的测试，都是针对偏振片某个具体光学参数的测试，无法在一次测试中对偏振片的光学参数进行全面评价。

发明内容

本发明实施例提供了偏振片光学参数的测试装置。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念，以此作为后面的详细说明的序言。

本发明实施例提供了一种偏振片光学参数的测试装置，所述测试装置包括：控制模块、测试光模块、被测件固定模块、第一检测模块和第二检测模块；

所述被测件固定模块，用于固定所述偏振片；

所述测试光模块，用于产生测试光并投射至所述偏振片；检测所述测试光的第一能量值；

所述第一检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；

所述第二检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；

所述控制模块，用于控制所述被测件固定模块、所述测试光模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块的状态；根据所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，计算所述偏振片的光学参数。

基于所述测试装置，作为可选的第一实施例，所述测试装置还包括：外壳；

所述控制模块、所述测试光模块、所述被测件固定模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块位于所述外壳中；

所述外壳的外表面上，具有对应所述控制模块的控制功能的功能控件。

基于所述第一实施例，作为可选的第二实施例，所述测试装置还包括：显示模块；

所述显示模块设置于所述外壳的外表面上、并与所述控制模块相连，用于显示所述控制模块的输出数据。

基于所述测试装置，作为可选的第三实施例，所述测试光模块包括：光源和测试光产生及监测模块；

所述光源，用于发射光线；

所述测试光产生及监测模块，用于利用所述光线产生所述测试光，将所述测试光投射至所述偏振片；检测所述测试光的第一能量值。

基于所述第三实施例，作为可选的第四实施例，所述测试光产生及监测模块包括：功率控制器、偏振模块、分光结构和第一能量探测器；

所述功率控制器，用于利用所述光线产生设定功率范围的第一测试光；

所述偏振模块，用于利用所述第一测试光产生设定偏振方向的第二测试光；

所述分光结构，用于将所述第二测试光分为第二反射光和第二透射光，将所述第二透射光投射至所述偏振片，将所述第二反射光投射至所述第一能量探测器；