[发明专利]一种基于测量点几何特征迭代配准的工件位姿调整方法有效

专利信息
申请号: 201810086150.7 申请日: 2018-01-29
公开(公告)号: CN108253911B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 江磊;丁国富;李勇;马术文;张剑;邹益胜 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 成都信博专利代理有限责任公司 51200 代理人: 王沙沙
地址: 610031 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于测量点几何特征迭代配准的工件位姿调整方法,包括以下步骤:统一测量坐标系和工件坐标系,检测工件获得接触测量数据;根据接触测量数据计算测量点的加工偏差和超差量OT;如果测量点的OT均不为零,则转入步骤4,否则结束;选择超差曲面,得到表面旋转配准矩阵和表面平移配准矩阵,分别将其耦合到工件旋转配准矩阵和工件平移配准矩阵中;根据指定机床的拓扑结构和工件旋转配准矩阵计算工件坐标系的调整量;根据指定机床的工件坐标系重新调整工件定位;根据调整量调整工件坐标系,检测工件获得接触测量数据,继续调整至满足要求;本发明简单易行,可满足工序件的多特征多约束条件下的加工位姿快速调整。
搜索关键词: 配准 矩阵 测量点 工件坐标系 接触测量 工件旋转 几何特征 检测工件 位姿调整 调整量 迭代 机床 测量坐标系 多约束条件 调整工件 工件定位 工件平移 加工偏差 矩阵计算 快速调整 数据计算 拓扑结构 重新调整 平移 超差量 工序件 加工位 耦合到 超差 转入 统一
【主权项】:
1.一种基于测量点几何特征迭代配准的工件位姿调整方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:统一测量坐标系和工件坐标系,检测工件获得接触测量数据;步骤2:根据接触测量数据计算测量点的加工偏差和超差量OT;步骤3:如果测量点的OT均不为零,则转入步骤4,否则结束;步骤4:选择超差曲面,得到表面旋转配准矩阵和表面平移配准矩阵,分别将其耦合到工件旋转配准矩阵和工件平移配准矩阵中;步骤5:根据指定机床的拓扑结构和工件旋转配准矩阵计算工件坐标系的调整量;步骤6:根据指定机床的工件坐标系重新调整工件定位;步骤7:根据步骤5得到的调整量调整工件坐标系,检测工件获得接触测量数据,转入步骤2;所述步骤2中加工偏差和超差量OT的计算方法如下:S1:设第n个面上第m个测量点的理论坐标为Pn_m(xn_m,yn_m,zn_m),实际坐标为P′n_m(x′n_m,y′n_m,z′n_m),测量方向为dn_m(in_m,jn_m,kn_m),加工偏差为:S2:定义第n个表面上的上、下偏差分别为分解后得到上、下偏差在X、Y和Z方向上的分量S3:每个测量点在X、Y和Z方向上的超差量如下:
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