[发明专利]一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法有效
| 申请号： | 201810075877.5 | 申请日： | 2018-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN108230974B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 王晓伟;张国庆;杨龙飞;王垒;赵科;王伟峰;杨红霞;郭美利;田飞文 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 周娟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法，涉及显示技术领域，以提高发光器件的非本质老化不良检出率。该发光器件缺陷检测电路包括电源信号调节单元、数据信号调节单元、第一初始信号调节单元，第二初始信号调节单元以及与驱动晶体管的控制端连接的存储电容；存储电容在电源信号、数据信号和初始信号的作用下控制驱动晶体管关断，使得第二初始信号调节单提供初始信号给发光单元，使得发光单元发光。所述显示驱动装置包括上述技术方案所提的发光器件缺陷检测电路。本发明提供的发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法用于检测发光器件非本质老化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 器件 缺陷 检测 电路 方法 显示 驱动 装置 显示装置 及其 | ||
【主权项】：
1.一种发光器件缺陷检测电路，其特征在于，包括：存储电容和发光单元；所述存储电容的第一极板分别连接电源信号调节单元和数据信号调节单元；所述存储电容第二极板分别连接第一初始信号调节单元和驱动晶体管的控制端，所述驱动晶体管的输入端连接第一电源信号端子，所述驱动晶体管的输出端和第二初始信号调节单元分别连接发光单元，所述发光单元与第二电源信号端子连接；同一时刻，在重置信号的控制下，所述电源信号调节单元用于将电源信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第一初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述存储电容的第二极板；在扫描信号的控制下，所述数据信号调节单元用于将数据信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第二初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述发光单元；所述存储电容用于在所述电源信号、所述初始信号和所述数据信号的作用下控制所述驱动晶体管关断，使得所述发光单元根据所述初始信号发光。
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