[发明专利]一种嵌入式设备文件的校验方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810048842.2 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN110058952B 公开(公告)日: 2022-08-19
发明(设计)人: 冯东;郝波;皮魏;毕文一;周贤民;王磊;周孝旭;朱乾鎏;周培慧;彭希予;陈斐 申请(专利权)人: 株洲中车时代电气股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;H04L9/06;H04L43/0823
代理公司: 北京聿华联合知识产权代理有限公司 11611 代理人: 张文娟;朱绘
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种嵌入式设备文件的校验方法,其用于校验上位机从嵌入式设备下载后的文件的完整性,该校验方法包括如下步骤:设定将嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对数据块的采样间隔;上位机按照采样间隔,对嵌入式设备文件的数据块进行采样,得到上位机采样数据块;上位机计算每个上位机采样数据块的散列值,将所有散列值按字节累加,得到第一累加散列值,并基于此得到针对嵌入式设备文件的文件校验值;嵌入式设备接收文件校验值,对该校验值进行校验,并将结果反馈至上位机,完成嵌入式设备文件的校验功能。本发明减少了校验计算的时间,降低了嵌入式设备及CPU设备的负荷,最大限度地保证校验结果的正确性。
搜索关键词: 一种 嵌入式 设备 文件 校验 方法 系统
【主权项】:
1.一种嵌入式设备文件的校验方法,其用于校验上位机从嵌入式设备下载后的文件的完整性,该校验方法的特征在于,其包括如下步骤:采样参数设定步骤,设定将嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对所述数据块的采样间隔;数据块采样步骤,所述上位机按照已定义的所述采样间隔,对所述嵌入式设备文件的所述数据块进行采样,得到上位机采样数据块;校验信息生成步骤,所述上位机计算每个所述上位机采样数据块的散列值,将所有散列值按字节累加,得到第一累加散列值,并基于此得到针对所述嵌入式设备文件的文件校验值;校验结果生成步骤,所述嵌入式设备接收所述文件校验值,对所述文件校验值进行校验判定,并将校验结果反馈至所述上位机,完成所述嵌入式设备文件的校验。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲中车时代电气股份有限公司,未经株洲中车时代电气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810048842.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top